Principios de la Microscopía Electrónica de Transmisión (Transmission Electron Microscopy, TEM)
Se ilumina una sección transparente a los electrones del espécimen, esdecir, una zona muy delgada de éste con un haz de electrones.
El voltaje de aceleración de los electrones es generalmente 100-400 kV.
Estos electrones al atravesar el espécimen dan lugar al diagrama dedifracción en el plano focal de la lente objetivo.
La imagen del objeto se produce como segunda transformada de Fouriersobre la pantalla de observación.
Diferentes modos de trabajo permiten obtener imágenes de altaresolución (HRTEM), imágenes de campo claro (BF) o de campo oscuro(DF), imágenes de barrido de transmisión (STEM), imágenes de haz débil(weak beam), filtrado de energías (EFTEM), diagramas de difracción deselección de área (SAED), diagramas de microdifracción de electrones yhaz convergente (CBED), etc.
La posibilidad de enfocar el haz en nanométricas ondas (0.1 Å – 1 nm)permiten operar en barrido-transmisión (STEM) y proporcionarinformación en varios modos microanalíticos: XEDS, EELS, etc.
200 nm Pseudobrookita
Ti2VO5 Ti4VO9
<
Morfología
Tomografía electrónica
Alta Resolución (HRTEM)
Espacio real
Difracción de electrones
Espacio recíproco
Microscopía
Analítica
Interacción del haz de electrones con la
muestra
Nanoesferas huecas de carbono.
Defectos en pseudobrookita (Ti2VO
5)
Diagrama de difracción de
electrones (SAED) de
pseudobrookita.
Microanálisis de Rayos X de
una aleación.
Análisis de pérdida de energía
de electrones (EELS) de una
partícula hueca de carbono
sobre la pared (línea negra) y
el centro (gris) de ésta.
FeCl2 encapsulado
en carbón amorfo
nanobolsa vacía de carbón
amorfo
núcleo esférico con
Fe, Cl y C
~13 nm
Esferas amorfas y vesículas de
carbono rellenas en algún
caso de FeCl2.
Imagen HRTEM de Bi4Cu1/3W2/3O7.8Cl procesada
a partir de 20 imágenes a distintos focos
alcanzando 1..1 Å de resolución y permitiendo
identificar vacantes de oxígeno en las
posiciones apicales de los octaedros {MO6}.
SAED en 4 orientaciones de
un cristal de Mg1-x
YbxS
mostrando intensidad difusa
provocada por orden a corto
alcance.
20 nm
Mapa químico con resolución
<1nm realizado por filtrado de
energías (EFTEM). Las líneas
blancas indican defectos ricos
en magnesio.
Servicio de MicroscopíaElectrónica de Transmisión
Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid
Top Related