Experimento 2
Muestreo y Retención (Muestreo de Techo Plano)
2.1 Arme el circuito de muestreo y retención, conecte a la entrada una onda sinusoidal de 1khz a 1vpp y fije el pulsador de muestreo en 10khz, 20us.
Repita la misma medición para otros valore del capacitor de almacenamiento
1 nf
100 nf
2.2 Conecte un filtro pasa bajos a la salida del circuito.
1 nf
100 nf
2.3 Medición de la distorsión de la señal reconstruida
Fije en f1 la frecuencia de la onda de entrada, 1vrms, conecte la salida del FPB a la entrada del separador de S/N
Repita las mediciones para distintas velocidades de muestreo (1nf)
10khz
6 khz
5 khz
2.4repita las mediciones para otro valor de capacitor integrador (100nf)
10 khz
6 khz
5 khz
2.5 fije la señal de entrada en f2 y repita las mediciones de las secciones anteriores
100 nf
10khz
6 khz
5 khz
1 nf
10 khz
6 khz
5 khz
2.6Circuito de Muestreo y Retención con separadores
Conecte a la entrada una onda sinusoidal de 1khz, 1vpp, y fije el pulsador de muestreo en 10 khz, 20 us. Esto es PAM de techo plano
100 nf
10 nf
2.7 Mediciones de Distorsión
Repita las mediciones 2.3, 2.4 y 2.5
Salida del Separador para señal de entrada en f1 y capacitor integrador 1 nf
10 khz
6 khz
5 khz
Salida del Separador para señal de entrada en f1 y capacitor integrador 100 nf
10 khz
6 khz
5 khz
Salida del Separador para señal de entrada en f2 y capacitor integrador 1 nf
10 khz
6 khz
5 khz
Salida del Separador para señal de entrada en f2 y capacitor integrador 100 nf
10 khz
6 khz
5 khz
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