INSPECCIÓN DE RAYOS X Y TC

METROLOGÍA DE GRAN VOLUMEN

INSTRUMENTOS DE MEDICIÓN DE VIDEO

MATERIALES Y SOLUCIONES DE MICROSCOPÍA INDUSTRIAL

METROLOGÍA MULTISENSOR

SERVICIO Y SOPORTE

Nikon Metrology Solutions

MET

ROLO

GÍA

IND

UST

RIA

L nik

Nikon Metrology Solutions 4 Inspección de rayos X y TC

FUENTES DE RAYOS X

SERIE XT H SISTEMAS DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA INDUSTRIAL

SERIE MCT SISTEMAS DE METROLOGÍA TC

SISTEMAS TC DE RAYOS X DE GRAN VOLUMEN

SERIE XT V INSPECCIÓN DE RAYOS X ELECTRÓNICA

AUTOMATIZACIÓN TC

13

17

Metrología de gran volumen LASER RADAR

CMM PARA EL ÁREA DE PRODUCCIÓN

Instrumentos de medición por video SISTEMAS DE MEDICIÓN POR VIDEO iNEXIV SERIE VMA

SISTEMAS DE MEDICIÓN POR VIDEO NEXIV SERIE VMZ-R

SISTEMAS DE MEDICIÓN POR VIDEO CONFOCAL NEXIV SERIE VMZ-K

MICROSCOPIOS DE MEDICIÓN MANUAL

PROYECTORES DE PERFILES

SISTEMAS DIGITALES DE MEDICIÓN DE ALTURA DIGIMICRO

AUTOCOLIMADORES

23 Materiales y solucionesde microscopía industrial MICROSCOPIOS ESTEREOSCÓPICOS

MICROSCOPIOS PARA MATERIALES Y COMPUESTOS INDUSTRIALES

SERIE BW – SISTEMA DE MICROSCOPIO INTERFEROMÉTRICO DE

LUZ BLANCA NEOSCOPE

MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE ESCANEO PARA MESA

INFORMACIÓN GENERAL DE LA SOLUCIÓN DE SOFTWARE

28 Metrología multisensorESCÁNERES CMM ESCÁNERES PORTÁTILES MODELMAKER

BRAZO CMM PORTÁTIL MCAx S

ESCANEO 3D SOFTWARE DE METROLOGÍA

34 Servicios y soporte

2

Obtenga la imagen interior de componentes electrónicos o industriales complejos, observando la estructura interna. Luego, utilice la capacidad TC para calificar y cuantificar cualquier dimensión interna o externa, todo en un proceso fluido y no destructivo.

Inspección de rayos X y TC FUENTES DE RAYOS X

XT H 225 / 225 ST TC INDUSTRIAL

MCT225 METROLOGÍA TC

XT H 320 TC INDUSTRIAL

XT H 450 TC DE ALTO VOLTAJE

SISTEMAS TC DE ÁREA GRANDE

XT V 130C / XT V 160 INSPECCIÓN ELECTRÓNICA DE RAYOS X

AUTOMATIZACIÓN TC

3

Inspección de rayos X y TC Fuentes de rayos X

Diseño y construcción propios La parte fundamental de la calidad de la imagen superior de Nikon, se encuentra en la tecnología de la fuente de rayos X líder mundial. Estas fuentes han sido diseñadas y fabricadas internamente desde 1987 hasta la actualidad; ofreciendo más de 30 años de conocimiento.

Al estar en el eje central de la imagen, el control sobre la tecnología de la fuente de rayos X permite a Nikon Metrology moverse rápidamente con el mercado y desarrollar soluciones completas e innovadoras para la demanda de la aplicación. El diseño de la exclusiva gama de fuentes de rayos X 225 de Nikon, permite que se adapten hasta 5 cabezas de objetivo en el mismo diseño de tubo abierto de rayos X, lo que da como resultado una flexibilidad y un rendimiento únicos con un solo tubo.

Todas las fuentes de 180kV a 320kV tienen un tubo abierto universal y módulos de objetivo intercambiables. El único tubo adaptable proporciona una calidad de imagen excepcional a través de múltiples voltajes y resoluciones como ningún otro. Los objetivos de rayos X fácilmente intercambiables permiten la optimización para una amplia gama de muestras. Esto ofrece una flexibilidad inigualable y un bajo costo de propiedad y varía de bajo (180) a medio (225) a alto (450) kV, todo con resolución de micras.

OBJETIVO DE TRANSMISIÓN DE 180 kV

Aplicable para muestras de menos de 10mm, como pequeños núcleos de roca o muestras de hueso, el objetivo de transmisión opera hasta 180kV para lograr un tamaño de punto mínimo de 1µm que conduce a una TC de alta resolución.

LA ÚNICA FUENTE MICROFOCO 450kV EN EL MUNDO

La fuente microfoco única de 450kV ofrece un rendimiento líder en la industria para piezas de fundición pequeñas de alta densidad o pequeñas a medianas con una potencia y resolución inigualables.

OBJETIVO DE REFLEXIÓN DE 225kV

Con hasta 225kV y un tamaño de punto mínimo de 3µm, la fuente microfoco de 225kV es el núcleo de la gama XT H 225 de Nikon, y ofrece una calidad de imagen excepcional así como alta resolución en una amplia gama de tamaños y densidades de muestras.

OBJETIVO GIRATORIO DE 225kV

Nikon Metrology es la única empresa del mundo que suministra sistemas de rayos X/TC con un objetivo giratorio de 225kV. Dispersa de manera eficiente el calor generado a medida que el haz de electrones golpea la superficie para generar fotones de rayos X, aumentando el flujo hasta 5 veces al tiempo que permite un funcionamiento continuo y un escaneo consecutivo sin necesidad de periodos de enfriamiento. La calidad de la imagen se mejora al permitir una resolución hasta 3 veces mayor para la misma potencia o, alternativamente, al permitir que los datos se recopilen de 3 a 5 veces más rápido para la misma resolución.

La fuente de alta luminosidad de 450kV de Nikon con tecnología de objetivo giratorio, ofrece una potencia continua de 450W, sin ninguna restricción de tiempo de medición, mientras mantiene un tamaño de punto más pequeño para un escaneo TC más rápido, recolectando datos hasta 5 veces más rápido con mayor precisión.

FUENTE DE 320kV

La fuente de 320kV es una fuente microfoco única para muestras demasiado grandes o densas para la 225kV, mientras mantiene un tamaño de punto pequeño. Ideal para núcleos de roca y fundiciones pequeñas, la fuente es una opción en el gabinete XT H 320.

OBJETIVO DE MÚLTIPLES METALES

La opción única del objetivo de múltiples metales permite a los usuarios cambiar el perfil de emisión de rayos X, que puede ser vital para el análisis de material de menor densidad. El metal del objetivo se puede cambiar sin romper el vacío, lo que proporciona una flexibilidad y un contraste de imagen incomparables en la investigación de materiales, análisis de estructuras biológicas y mucho más.

4

FUEN

TES

RAY

OS

X

Inspección de rayos X y TC XT H 225/225 ST

Ingrese al mundo TC de rayos X

La captura y medición detalladas de componentes internos y características de ensamblaje, es vital para el control de calidad, el análisis de fallas y la investigación de materiales.

Los sistemas de nivel básico XT H 225 cuentan con una fuente de rayos X microfoco que ofrece una alta resolución de imagen y un gran volumen de inspección para un sistema que ocupa poco espacio.

El sistema XT H 225 ST es una versión extendida capaz de albergar muestras más grandes o más pesadas y una selección de fuentes de rayos X que van desde el objetivo de transmisión de 180kV hasta el objetivo giratorio de alto flujo de 225kV. Pueden configurarse para adaptarse a una variedad de aplicaciones en los sectores automotriz, aeroespacial, energético, médico, dental, manufactura aditiva, electrónica, de consumo y muchos otros sectores.

TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA

Para generar un volumen TC en 3D, se captura una serie de imágenes secuenciales de rayos X en 2D, ya que el objeto se hace girar 360°. Luego, estas imágenes se reconstruyen para generar una representación volumétrica en 3D del objeto. Además de las superficies exteriores, el volumen reconstruido contiene toda la información de las superficies interiores y de la estructura, - así como también información sobre la estructura del material. Es posible navegar a través del volumen TC en cualquier punto dado, a través de cualquier plano. Como resultado, incluso las mediciones interiores se pueden obtener fácilmente, así como el beneficio adicional de localizar las imperfecciones del material estructural e identificar los errores de ensamblaje que generalmente no son visibles a través de los métodos tradicionales de END.

5

XT

H 2

25/2

25 S

T

CARACTERÍSTICAS

- Elección de diferentes fuentes de rayos X microfoco patentadas - Objetivo de transmisión de 180kV - Objetivo de reflexión de 225kV - Objetivo giratorio de 225kV

- Amplia gama de detectores de pantalla plana de alta calidad - Visualización de rayos X en tiempo real, reconstrucción TC

rápida - Manipulador de piezas de 5 ejes totalmente programable - Macros personalizables automatizan el flujo de trabajo en la

medición - Excelente volumen de inspección para espacios reducidos

BENEFICIOS

- Increíble versatilidad y optimización para una amplia gama de aplicaciones y muestras

- Los sistemas flexibles permiten una inspección visual rápida y un análisis de fondo

- Los costos de mantenimiento más bajos gracias al diseño y construcción internos

- Datos de alta calidad rápidos y fiables, para todas las necesidades del usuario

- Tiempos de entrenamiento más cortos y flujos de trabajo sencillos ofrecen una fantástica experiencia para el usuario

- Tiempos de escaneo ultra rápidos y calidad de la imagen maximizada

- Fácil optimización de la calidad y resolución para diferentes muestras

Inspección de rayos X y TC Metrología TC MCT225

Precisión absoluta para metrología interior

El MCT225 mide eficientemente la geometría interna y externa sin mediciones de referencia y sin dañar la muestra. Con más de 30 años de experiencia en rayos X, el abolengo de Nikon Metrology para una TC de metrología de alta calidad y confiabilidad no tiene comparación.

PRECISIÓN ABSOLUTA

El MCT225 está precalibrado, usando estándares de precisión trazables al Instituto nacional de medición (NPL) del Reino Unido y verificado usando las pautas VDI/VDE 2630 para tomografía computarizada en medición dimensional. La precisión absoluta garantiza la exactitud de la medición sin escaneos comparativos o mediciones de referencia que consuman mucho tiempo, las muestras simplemente se colocan en una mesa giratoria dentro del recinto y se miden. Varias características de metrología clave brindan estabilidad a largo plazo y permiten que el MCT225 logre un impresionante MPE de 9+L/50 µm.

PROCESO DE METROLOGÍA TC

F1 distribuidor hidráulico del automóvil

Reconstrucción del volumen TC

Comparación directa con el modelo CAD

Sección de geometría interna

Informe dimensional GD&T

6

MET

ROLO

GÍA

TC

MC

T225

CARACTERISTICAS

- Nikon Metrology desarrolló una fuente de rayos X microfoco

- Recinto con temperatura controlada - Carriles-guía lineales de alta precisión - Error de desplazamiento del eje corregido - Fuente de rayos X con refrigeración líquida - Codificadores ópticos de alta resolución - Detector de 4 megapíxeles de alta resolución - Manipulador optimizado de análisis

de elementos finitos (FEA)

Inspección de rayos X y TC XT H 320

TC Microfoco de cabina grande

El XT H 320 es un sistema de cabina grande, para el escaneo TC y rayos X así como para metrología de componentes grandes. El sistema consta de una fuente microfoco de 320kV emitiendo hasta 320W de potencia.

Se utiliza un panel plano de alta resolución para recopilar imágenes de alta calidad de la muestra. El sistema está controlado por el software Inspect-X, el cual permite que la recopilación de datos TC y la configuración de las mediciones sea simple y fácil. El sistema puede enviar datos de volumen a un software de análisis y visualización líder en la industria.

IMÁGENES ESPECTACULARES

Las muestras de materiales múltiples o de atenuación inferior, se escanean mejor con detectores de panel plano de alta calidad debido al alto rango dinámico. Los datos de vóxel de alta resolución se logran en TC al tener detectores de pantalla plana con muchos píxeles. Las cabinas más grandes se pueden configurar con una amplia gama de detectores de alta calidad, incluidos los de mayor resolución para 4000 x 4000 píxeles, para imágenes con una nitidez absoluta.

MICROFOCO DE 320kV

La mayoría de los proveedores de sistemas solo ofrecen fuentes microfoco de hasta 225kV, mientras que las fuentes más potentes en sus ofertas son las minifoco. Con muestras más grandes, a menudo se necesita más potencia de penetración y por lo tanto, Nikon Metrology ofrece una fuente de rayos X microfoco de 320kV única. Dado que el tamaño del punto de rayos X de estas fuentes es una orden de magnitud más pequeña, en comparación con las fuentes minifoco, los usuarios finales se benefician de una resolución superior, precisión y una gama más amplia de piezas medibles.

Fósil de caracol Batería

Lata de espuma de afeitar Evaluación del espesor de la pared en el impulsor

7

XT

H 3

20

CON LOS SISTEMAS TC DE NIKON METROLOGY USTED PUEDE

- Verificar estructuras internas complejas - Aislar e inspeccionar de forma no destructiva los

componentes incluidos - Medir las dimensiones internas sin seccionar la muestra - Detectar y medir automáticamente huecos/volúmenes

internos - Revelar superficies internas y externas con facilidad - Reducir el tiempo total de inspección - Reducir el número de iteraciones para ajustar con

precisión los parámetros de (pre) producción

Inspección de rayos X y TC XT H 450

Alto voltaje TC microfoco 450kV

El XT H 450 establece una nueva referencia para la medición de álabes de turbina y la inspección END de fundiciones pequeñas y medianas. En el núcleo de este poderoso equipo se encuentra una fuente microfoco de 450kV, que proporciona una resolución y precisión superiores.

El detector de matriz lineal curvada optimiza la recolección de rayos X al eliminar los fenómenos de dispersión que normalmente corrompen las radiografías 2D de álabes y otras partes metálicas.

La fuente de alta luminosidad de 450kV ofrece las mismas ventajas que un objetivo giratorio: recopilación de datos más rápida o una mayor calidad de datos a una potencia continua

Imágenes de rayos X y cortes TC de un álabe de turbina aeroespacial de un solo cristal, generadas mediante un detector de matriz de diodos lineales curvados (CLDA).

Radiografía de motosierra Radiografía de fundición de un motor

8

XT

H 4

50

CARACTERÍSTICAS

- Fuente única microfoco de 450kV de tubo abierto - Fuente de alta luminosidad disponible (opcional) - Diferentes opciones de imágenes

- Detector de pantalla plana Varex (XT H 450 3D) - Detector de matriz lineal curvada (XT 450 2D) - Combinación de panel plano y detector CLDA

- Volumen de medición de hasta 600mm de diámetro y 600mm de altura

- Manipulador de plataforma giratoria de 5 ejes totalmente programable con husillos de bolas de precisión y guías lineales

- Aplicación dedicada para la inspección automática de éxito/fallo de álabes de turbina

RENDIMIENTO MÁS RÁPIDO O MAYOR CALIDAD DE DATOS CON FUENTE DE ALTA LUMINOSIDAD

La nueva fuente de alta luminosidad de 450kV (opcional), permite al usuario aprovechar al máximo este sistema XT H 450. Para un tamaño de punto y una potencia determinados, los datos se pueden recopilar normalmente entre 3 y 5 veces más rápido, lo que brinda al usuario un mayor rendimiento. Alternativamente, para una potencia y un tiempo de medición determinados, la resolución disponible será mayor y por lo tanto, se mejorará la calidad de los datos. La fuente de alta luminosidad también ofrece 450W continuos sin restricción de tiempo de medición.

APLICACIONES

- Análisis detallado del espesor de pared y de la estructura interna de álabes de turbina

- Inspección automática de éxito/fallo de los álabes - Inspección de piezas de alta densidad (ej. piezas metálicas,

fundiciones) con necesidad de precisión de micras

Inspección de rayos X y TC Sistemas TC configurables

Configuraciones ilimitadas para una TC de precisión Los sistemas configurables de rayos X/TC de Nikon Metrology, ofrecen una inspección de área grande, admiten múltiples fuentes, múltiples detectores y se pueden configurar a la medida para adaptarse a una variedad de aplicaciones. Los sistemas modulares TC microfoco de Nikon Metrology pueden integrarse en cabinas existentes o salas con puerta de acceso para actualizar las instalaciones antiguas basadas en películas o en sistemas minifoco.

El núcleo de estos sistemas configurables son las fuentes microfoco internas de Nikon de hasta 450kV. El tamaño del punto focal de estas fuentes microfoco es de un orden de magnitud más pequeño en comparación con las fuentes minifoco, lo que da como resultado una resolución y precisión superiores.

SISTEMA DE ESCANEO TC DE PRECISIÓN DE ÁREA GRANDE

Los objetos densos y difíciles de manejar son perfectos para el sistema de escaneo C2. Configurable con fuentes duales, detectores duales y cambio de panel de múltiples posiciones, este sistema puede escanear con precisión objetos de hasta 150kg de peso. El C2 ofrece una envolvente de inspección inigualable, a través de la fuente de rayos X vertical sincronizada y el movimiento del detector. El sistema ofrece una precisión perfecta gracias a su base de granito de 4.3 metros de largo y se puede configurar con un detector de panel plano y la matriz de diodos lineales curvados (CLDA) de Nikon Metrology para reducir la dispersión y mejorar drásticamente la definición de la imagen.

TC DE PRECISIÓN COMPACTA

El M2 redefine completamente el escaneo TC industrial. Configurable para fuentes duales, detectores duales y cambio de panel de múltiples posiciones, este sistema puede escanear con precisión objetos de todas las formas y tamaños. El M2 está equipado con un manipulador vertical y un plato giratorio inclinable, con un puente de muestra apoyado en ambos extremos para un posicionamiento y precisión idóneos.

CABINAS PERSONALIZADAS O SALAS CON PUERTA DE ACCESO

Estos sistemas TC configurables pueden integrarse en gabinetes (existentes) o salas con puerta de acceso. Como tal, puede configurar sus instalaciones de rayos X/TC según sus necesidades, o incluso actualizar las instalaciones existentes con la última tecnología de rayos X/TC.

9

SIST

EMA

S TC

CO

NFI

GU

RABL

ES

Inspección de rayos X y TC XT V 160 Sistema de inspección de

rayos X de Primera clase Las conexiones de los componentes de las placas de circuito impreso compactas y densamente pobladas de hoy están ocultas por otros componentes, esto hace que los rayos X sea la única solución de inspección viable. Con reconocimiento de características menores de una micra, el XT V 160 es aplicable a una amplia gama de industrias, desde ensamblaje de PCB, BGA, diseño de chips, dispositivos médicos, fabricación de componentes automotrices, aeroespacial, productos de consumo y mucho más. En el modo de inspección automatizada, las muestras se pueden inspeccionar con el mayor rendimiento. En modo manual, el software intuitivo y la manipulación de muestras de alta precisión, permiten a los operadores visualizar y evaluar los defectos y deficiencias internos más pequeños.

Bajo cualquier combinación de rotación, inclinación y ampliación, la región de interés se bloquea de forma consistente en el centro del campo de visión.

10

XT

V 1

60

CARACTERÍSTICAS

- Fuente patentada de 160kV con reconocimiento de características menores de una micra - Visión de BGAs en ángulo oblicuo de más de 90 grados - Captura rápida de datos e imágenes de alta calidad - Bandeja grande para cargar varias placas - Macros personalizables automatizan el flujo de trabajo de medición - Estación de validación remota disponible

BENEFICIOS

- Fuente de rayos X microfoco Nikon Xi patentada con diseño de tubo abierto y ciclo de vida ilimitado, que evita costosos reemplazos asociados con la tecnología de tubo sellado

- Verdaderos detectores de panel plano de silicio amorfo de 16 bits, para la mejor calidad de imagen de su clase

- Transición perfecta entre radiografía, tomografía y laminografía en un solo sistema - Verdadera imagen concéntrica - el componente permanece a la vista con cualquier

combinación de inclinación, rotación y ampliación - Energía máxima de 160kV, verdadera potencia del objetivo de 20W, ampliación

geométrica superior a 2000x, ampliación del sistema de hasta 36,000x y capacidad de reconocimiento de defectos de 500nm. Los sistemas de inspección XT V albergan tamaños de muestra de hasta 711x762 mm (28x30”), un peso de muestra de 5kg (expandible a 12kg) y pueden obtener imágenes de hasta 56fps

- Motor de imágenes C.Clear - el motor de imágenes C-Clear permite la mejora automática de imágenes en tiempo real, para que todos los usuarios obtengan una calidad de imagen superior

- La serie XT V viene preparada para Industry-4.0, con control total a través de IPC (comunicación entre procesos) para una integración perfecta en la línea de producción.

APLICACIONES

- Análisis de soldadura por refusión - Análisis y conectividad BGA - Cálculo de huecos en soldadura - Medición e inspección de orificios pasantes - Medición de huecos en unión de troqueles - Análisis de unión de bolas - Análisis de unión de puntadas - Análisis micro BGA/chip en chip - Análisis de matriz de almohadillas - Detección y análisis de juntas secas - Inspección de laminados, sensores, interruptores y pequeños componentes electrónicos.

Inspección de rayos X y TC XT V 130C

Sistema de control de calidad versátil y fácil de usar El XT V 130C es un sistema de inspección de semiconductores y electrónica altamente flexible y rentable. El sistema cuenta con una fuente fabricada por Nikon Metrology de 130kV/10W, un diseño de tubo abierto reconocido a nivel mundial con generador integrado y una cadena de imágenes de alta resolución.

A través de una serie de actualizaciones de fábrica y de campo, el usuario final puede configurar estos sistemas según sus propias necesidades con una fuente de energía más alta, una bandeja de muestras giratoria, software de inspección automática, una opción de pantalla plana digital y la capacidad de agregar Tecnología TC.

Fácil acceso al área de inspección

La magnífica ampliación de la imagen permite a los usuarios acercar cualquier elemento específico de interés

Los ángulos de inclinación de hasta 72° ofrecen suficiente flexibilidad para rastrear problemas de conectividad rápidamente

11

XT

V 1

30C

CARACTERÍSTICAS

- Fuente microfoco patentada de 20-130kV con reconocimiento de características de 2µm

- Área de medición de 406x406mm - El verdadero ángulo de inclinación del manipulador de 72°

permite una visión oblicua para una fácil inspección de las características internas

- Una puerta con bisagras que proporciona un fácil acceso al área de inspección.

- Los componentes reparables son de fácil acceso

BENEFICIOS

- Operación en línea con navegación intuitiva con joystick - Mantenimiento de bajo costo con tecnología de tubo abierto - Sistema seguro que no requiere precauciones especiales ni

lotes - Tamaño reducido y bajo peso para una fácil instalación - Posible opción TC

APLICACIONES

- Componentes electrónicos y eléctricos - Enlaces de cuña rotos, uniones de bola levantadas,

barrido de alambre, unión de troqueles, juntas secas, puentes/cortocircuitos, vacíos, BGA, etc.

- PCBs con y sin datos - Ver defectos de montaje en superficie, es decir,

dispositivos desalineados, porosidad de juntas de soldadura y puentes

- Inspección detallada de vías, revestimiento de orificios pasantes y alineación de múltiples capas

- Paquetes de escala de chips a nivel de oblea (WLCSP) - Inspección BGA y CSP - Inspección de soldadura sin plomo

- Sistemas micro-electro-mecánicos (MEMS, MOEMS) - Cables, arneses, plásticos y muchos más

Inspección de rayos X y TC Automatización TC Nikon

Automatización TC Nikon lista para producción Un desafío importante para los fabricantes es aumentar la calidad del producto, lo que se puede lograr mediante la inspección del 100% de las piezas. Los avances recientes en objetivos giratorios de alta resolución y alto flujo para fuentes de rayos X, junto con la fácil automatización de los parámetros de escaneo de TC y las técnicas de análisis, permiten escanear, reconstruir y evaluar las muestras en menos de dos minutos. Esto abre la puerta a una amplia gama de aplicaciones de inspección y automatización, que van desde una simple inspección de éxito/fallo hasta una inspección TC automatizada en línea completa con retroalimentación al proceso de producción.

Inspección TC por lotes Como estándar, Inspect-X permite guardar perfiles con parámetros de exploración y reconstrucción que garantizan la repetibilidad de todo el proceso TC.

La inspección por lotes permite la automatización de múltiples escaneos con manejo manual de piezas.

Inspección TC semiautomatizada En los sistemas de inspección TC semiautomatizados, cargar la pieza o un portamuestras con varias piezas es la única operación manual. El resto del proceso de escaneo y análisis éxito/fallo está completamente automatizado.

La inspección semiautomatizada permite la automatización de todas las tareas con carga de varias piezas.

Inspección TC en línea El sistema TC en línea es una solución de inspección al 100% para entornos de producción automatizados donde es necesario inspeccionar piezas críticas con geometrías internas complejas. Los robots cargan/descargan muestras de los transportadores y colocan piezas en el sistema TC a través de una puerta automatizada.

La automatización en línea permite la integración completa de inspección TC en su línea de producción.

12

BENEFICIOS

- Integración con robots y sistemas transportadores - Control de calidad mejorado - Eficiencia incrementada - Trazabilidad completa

BENEFICIOS

- La interfaz de usuario (UI) personalizada y simplificada guía al usuario a través del proceso completo

- Identificación de piezas por barras o lector de códigos QR - Integrado con la base de datos de fabricación - Proceso repetible

BENEFICIOS

- No se requieren conocimientos de programación - Inspect-X carga los programas de informes y análisis adecuados - El usuario es libre de realizar tareas paralelas como la preparación de muestras.

Metrología de gran volumen LASER RADAR

CMM DEL ÁREA DE PRODUCCIÓN

Nikon Metrology ayuda a los clientes a ofrecer Quality 4.0 con tecnología compatible en línea y en el área de producción. Los productos de metrología de gran volumen permiten mediciones rápidas y precisas de piezas más grandes in situ o en la línea de producción, aumentando la calidad, reduciendo los desechos y mejorando el proceso de producción.

13

Metrología de gran volumen Laser Radar MV331/351

Inspección automatizada de gran volumen sin contacto Laser Radar es un sistema de metrología versátil que ofrece mediciones sin contacto y semiautomatizadas o totalmente automatizadas que se pueden implementar igualmente en salas de metrología o en el área de producción. Laser Radar incorpora tecnología láser patentada que permite la medición directa de superficies y características con transmisión de datos a gran velocidad, manteniendo precisión y exactitud. Como resultado, Laser Radar elimina el uso del punto de fotogrametría, marcadores de montaje parcial y retrorreflectores de montaje esférico. Esto, junto con su capacidad para escanear materiales y superficies oscuros, difusos o altamente reflectantes bajo cualquier condición de iluminación, reduce drásticamente el tiempo de instalación e inspección, así como la sobrecarga del operador.

Laser Radar se utiliza para la inspección de gran volumen de objetos que van desde la puerta de un automóvil hasta un avión completo, lo que reduce los costos y mejora la calidad del producto y el proceso.

14

LASE

R RA

DA

R M

V33

1/35

1

CARACTERÍSTICAS

- Rango de medición para MV351 hasta 50m, MV331 hasta 30m - El modo de inspección Vision Scan captura hasta 2000 puntos por

segundo - Precisión de longitud típica de 29μm (2m de distancia) - Potentes capacidades de medición de orificios y bordes - Escaneo de características específicas con definición precisa de la

ruta de escaneo - Todos los datos adquiridos referenciados a un único sistema de

coordenadas contiguas - Interfaces con el software de metrología estándar de la industria:

Metrolog X4, Polyworks, Spatial Analyzer

BENEFICIOS

- Multiplicador de productividad gracias a la medición rápida y automatizada

- Medición sin contacto ideal para muestras delicadas, inaccesibles o peligrosas

- La automatización ahorra en los gastos del operador y mejora enormemente la consistencia de la medición

- Mediciones fiables en materiales compuestos - Integración perfecta en el proceso de medición

APLICACIONES

- Inspección del fuselaje, ala, conexión ala/cuerpo, puerta del tren de aterrizaje y álabe del motor a reacción

- Inspección de huecos y escalones del capó del motor a reacción - Inspección automatizada de las posiciones de los orificios de

remache - Molde del primer artículo e inspección en serie de piezas

compuestas - Verificación en la máquina de piezas grandes mecanizadas - Verificación dimensional de piezas forjadas y moldeadas antes

de que comience el proceso de fresado - Medición de álabes de aerogeneradores y paneles solares concentrados - Verificación del hardware del telescopio espacial, antena

parabólica y superficie caliente

Metrología de gran volumen CMM para área de producción

CMM para la inspección de la carrocería en el área de producción

El Laser Radar montado en un robot industrial introduce un enfoque innovador para la inspección de cuerpos en blanco (BIW) y componentes.

Este sistema del área de producción proporciona mediciones dimensionales precisas en el sistema de coordenadas del automóvil, lo que permite una comparación directa con CAD sin necesidad de correlaciones. A diferencia de una CMM de brazo horizontal, sus mediciones de alta velocidad se ajustan a tiempos de ciclo de producción cortos. Al mismo tiempo, es una solución más flexible para adaptarse a los cambios en la mezcla de modelos y el diseño de fábrica.

El Laser Radar montado en un robot es una alternativa innovadora para una CMM tradicional de brazo horizontal

Los elementos como agujeros, ranuras, pines, espárragos, etc. se inspeccionan de forma automatizada con rutas de escaneo de precisión y conjuntos de datos optimizados.

Inspección de carrocería en línea: En cada carrocería se inspeccionan varias características en el tiempo de medición de la línea, ya sea como un conjunto completo o en un proceso de muestreo para garantizar que se midan todas las características críticas.

CM

M Á

REA

PRO

DU

CC

IÓN

CARACTERÍSTICAS PRINCIPALES

- Inspección flexible y automatizada - Mediciones absolutas en coordenadas de vehículos -

Metrología de gran volumen Impulsando Quality 4.0 Impulsando

Quality 4.0 A medida que la inspección del cuerpo en blanco (BIW) avanza en la dirección de Quality 4.0, se convertirá en un proceso de medición absoluta, sin contacto y totalmente automatizado que se integrará en la línea de producción.

Los enfoques de inspección tradicionales, como las máquinas de medición por coordenadas (CMM), están siendo reemplazados por enfoques más nuevos, sin contacto y más flexibles, como los sistemas Laser Radar. Cuanto más regularmente se proporcionen datos de medición fiables, se podrá controlar más estrictamente la calidad de la línea de producción. Esto es especialmente cierto en las plantas de automóviles, donde el aumento de la calidad y la repetibilidad es eficaz en las fases de producción, prototipado y lanzamiento, lo que finalmente conduce a un tiempo de comercialización mucho más corto para un vehículo nuevo.

Inspección del lado de línea: Se toma una carrocería de la línea y se inspecciona completamente. Dos o cuatro robots garantizan la máxima productividad de inspección. Después de la inspección, la carrocería se vuelve a insertar en la línea de producción.

Reemplazo del brazo horizontal CMM: La solución Laser Radar en robot, puede medir hasta 6 veces más rápido que las CMMs tradicionales de brazo horizontal. Como los datos de inspección de BIW son mucho más rápidos, se pueden inspeccionar más carrocerías, lo que da como resultado una retroalimentación más temprana del proceso de producción.

Inspección del lado de línea con mesa giratoria: Se lleva una carrocería de la línea a una mesa giratoria. Un Laser Radar en un elevador fijo, inspecciona la carrocería desde todos los lados.

Inspección de componentes: un solo Laser Radar en un elevador, está al servicio de las estaciones de inspección de los componentes.

16

Lo que ganan los clientes $ Con la necesidad de ciclos de producción más cortos y flexibles, los fabricantes de automóviles buscan continuamente reducir el tiempo y los costos manteniendo la calidad. Para la inspección automotriz en línea, el Laser Radar automatizado en un robot, ofrece las capacidades adecuadas para satisfacer la necesidad de mediciones flexibles y absolutas directamente en el área de producción. Para los fabricantes de automóviles, esto se traduce en:

ARRANQUE MÁS CORTO DE LA LÍNEA DE PRODUCCIÓN NUEVA O AL CAMBIAR EL MODELO DEL VEHÍCULO: Durante la fase de puesta en marcha de una línea de producción, los primeros vehículos producidos se pueden medir por completo y comparar con CAD en un tiempo corto. Esto proporciona una mejor comprensión de la conformidad del producto y permite un ajuste fino más rápido del proceso de producción.

REDUCCIÓN DE DESPERDICIOS: Al monitorear de cerca la calidad de la producción, el proceso de manufactura se puede ajustar instantáneamente cuando con el tiempo, ocurren variaciones.

DATOS DE PRUEBA PARA EL FUTURO: Las mediciones en coordenadas absolutas encajan en el proceso de fabricación digital, donde los macrodatos se utilizan como referencia para comparar datos a lo largo del tiempo y permiten una mejor comprensión, toma de decisiones, automatización de procesos y acelerar el desarrollo de futuros productos.

Medición por video Metrología SISTEMAS DE MEDICIÓN POR VIDEO

MICROSCOPIOS DE MEDICIÓN MANUAL

PROYECTORES DE PERFILES

MEDIDORES DE ALTURA DIGITALES

AUTOCOLIMADORES

Los instrumentos de metrología de precisión garantizan la máxima garantía de calidad en toda la producción. Fundada en la excelencia óptica de Nikon, los sistemas de medición por video, los microscopios de medición, los proyectores de perfiles y los comparadores ópticos establecen nuevos estándares para medir incluso las piezas de trabajo más pequeñas.

17

Instrumentos de medición iNEXIV VMA-2520 / VMA-4540 / VMA-6555

Sistemas de medición por video CNC multisensor Los sistemas de medición por video CNC NEXIV inspeccionan automáticamente las dimensiones de una variedad de componentes, desde equipos de precisión fina y piezas electrónicas, utilizando medición óptica y tecnologías de procesamiento de imágenes. Al detectar con precisión los bordes característicos de la muestra utilizando imágenes de cámara CCD y con procesamiento de datos, es posible la medición de una muestra compleja.

Comenzando con el VMA-2520 como un sistema de medición multisensor ligero y compacto para una medición de componentes rápida, completamente automática y de alta precisión. Es idóneo para una amplia variedad de tareas de medición industrial, aplicaciones de inspección y control de calidad. El iNEXIV está diseñado para medir piezas de trabajo en 3D, está listo para la sonda táctil, integra el último software de procesamiento de imágenes e incorpora un excelente sistema de zoom óptico Nikon 10x y enfoque automático láser mediante la opción de triangulación.

iNEXIV VMA-4540

El rentable VMA-4540 ofrece un recorrido de medición más grande que permite la inspección de piezas mecánicas y electrónicas más grandes y más altas. El VMA-4540 también proporciona una capacidad de medición de sonda táctil opcional. El modelo de desplazamiento con plataforma más grande, el VMA-6555 es adecuado para las muestras más grandes (hasta 650 x 550 x 200 mm) y se puede configurar para la medición en serie de varias piezas cuando se cargan juntas. Presenta una relación costo-beneficio óptima con la misma estructura sólida de hierro fundido y utiliza la misma tecnología de rodamientos directos que los modelos más caros.

iNEXIV VMA-2520 iNEXIV VMA-6555 modelo de recorrido largo Pieza de fundición a presión de aluminio

18

iNEX

IV S

ERIE

VM

A

CARACTERÍSTICAS

- Cuerpo que ahorra espacio con un peso de solo 72kg (VMA-2520)

- Cómodos volúmenes de medición: - Recorrido XY de 250 x 200 mm y

recorrido Z de 200 mm (VMA-2520) - Recorrido XY de 450 x 400 mm y

recorrido Z de 200 mm (VMA-4540) - Recorrido XY de 650 x 550 mm y

recorrido Z de 200 mm (VMA-6555) - Software sofisticado VMA AutoMeasure - Enfoque automático láser de alta velocidad y

alta precisión (opcional) - Preparado para multisensores: vision (como

estándar), láser y sonda táctil

BENEFICIOS

- Alta precisión a través de tres sistemas de iluminación LED blancos dedicados y el uso de materiales de aleación de aluminio en la construcción del instrumento

- Los controles de etapa rápida aumentan el rendimiento de la inspección

- La nueva óptica de zoom hace que la medición de piezas 3D sea más exacta, precisa y más sencilla para el operador

- Algoritmos avanzados de procesamiento de imágenes y capacidad de búsqueda inteligente

APLICACIONES

- Piezas mecánicas (ej. piezas de metal y de moldeo por inyección)

- Dispositivos electrónicos - Troqueles - Moldes - Dispositivos médicos

Instrumentos de medición NEXIV VMZ-R3020 / VMZ-R4540 / VMZ-R6555

Los últimos avances en tecnología NEXIV Las mediciones precisas de productos avanzados (ej. teléfonos inteligentes y tabletas) y la tecnología de procesamiento de imágenes de alta velocidad para la producción en masa se han convertido en una operación de inspección estándar. Estos sistemas NEXIV de última generación, tienen como objetivo la medición más rápida y precisa de las dimensiones y formas de los componentes, incluso de componentes electrónicos y piezas mecánicas de alta densidad y múltiples capas.

VMZ-R4540

MEDICIONES ALTAMENTE PRECISAS Y RÁPIDAS

La tecnología de codificador lineal desarrollada internamente por Nikon, logra un mayor nivel de precisión en las mediciones. Las mejoras en la tecnología de transferencia de imágenes y los cambios en las fuentes de iluminación han reducido significativamente el tiempo total de medición.

VMZ-R3020 VMZ-R6555

FLEXIBILIDAD DE MEDICIÓN

Un tercer ángulo de iluminación de anillo presenta una detección avanzada de bordes, mientras que las mejoras del láser de enfoque automático a Través De la Lente (TTL) han fortalecido la capacidad del sistema para medir incluso componentes transparentes.

OPERABILIDAD AVANZADA

La eficiencia de trabajo ha mejorado al reducir el número de pasos del programa necesarios para crear archivos de enseñanza. Desarrollada para un entendimiento más fácil y una mejor comprensión, la función "Panel guía" recientemente agregada ha mejorado el programa principal para el operador del sistema.

SISTEMA DE ILUMINACIÓN DE ANILLO DE 8 SEGMENTOS CON TRES ÁNGULOS DE INCIDENCIA

La iluminación episcópica, diascópica y de anillo emplean LED blancos de alta potencia de salida y proporcionan una excelente estabilidad de contraste y una vida útil muy larga de la fuente de luz. El Sistema de Iluminación de Anillo con sus tres ángulos de incidencia está diseñado para una captura de bordes correcta y una alta confiabilidad en ciclos de medición repetidos.

Vidrio protector

37° 55° 78° Dist. trabajo:50mm Dist. trabajo:36mm Dist. trabajo:10mmSustrato El nuevo láser de enfoque automático está diseñado para detectar superficies de material delgado y transparente. El nuevo sensor detecta las superficies superior y posterior.

Áng. incidencia bajo/Larga dist. trabajo Áng. incidencia alto/Corta dist. trabajo

El nuevo sistema de Iluminación de Anillo de 8 sectores con sus tres ángulos de incidencia está diseñado para una capacidad de captura de bordes aún mejor.

19

NEX

IV S

ERIE

VM

Z-R

CARACTERÍSTICAS

- El láser de enfoque automático (en el eje) está diseñado para detectar con facilidad incluso la superficie de materiales transparentes delgados

- Están disponibles 6 tipos de sistemas de zoom óptico en la serie de modelos

- Sistemas de Iluminación de anillo LED de 8 sectores con tres ángulos de incidencia repetibles para controlar el contraste de la imagen

- Precisión de medición mejorada con tecnología de codificador lineal de alta resolución

- Disponible en diferentes tamaños de plataforma VMZ-R3020, VMZ-R4540, VMZ-R6555

- La interfaz de software del usuario optimizada, permite a cada usuario operar el sistema y crear programas de medición automatizados a través de una variedad de habilidades y experiencia.

Instrumentos de medición NEXIV CONFOCAL VMZ-K3040 / VMZ-K6555

Mediciones 3D usando imágenes confocales La serie Confocal NEXIV demuestra un innovador sistema de medición de video multifuncional que se desarrolló a partir de la solidez de la experiencia y tecnologías líderes en opto-mecatrónica de Nikon.

Incorpora óptica confocal avanzada para una evaluación rápida y precisa de geometrías tridimensionales finas y óptica de campo brillante con una relación de zoom de 15:1. La imagen confocal en vivo proporciona una vista excepcional de la superficie de la muestra con una mayor profundidad de enfoque para el operador y para los algoritmos de medición del sistema. Permite realizar mediciones 2D y de altura en el mismo campo de visión. El Confocal NEXIV se puede utilizar de manera óptima para la inspección de estructuras altamente complejas como alturas de soldadura en paquetes de semiconductores avanzados, tarjetas de sonda de obleas y marcas láser fabricadas en obleas, etc.

Imagen confocal Imagen de contorno 3D Imagen de campo claro (relieve)

Imagen EDF

20

NEX

IV C

ON

FOC

AL

SERI

E V

MZ-

K

CARACTERÍSTICAS

- Mediciones simultáneas de altura en áreas amplias con el diseño óptico confocal patentado por Nikon

- Medición 2D con óptica de relación de zoom de campo brillante 15:1

- Totalmente compatible con tareas de medición de obleas de 300mm

- Disponible en diferentes tamaños de plataforma: VMZ-K3040 y VMZ-K6555

APLICACIONES

- Bolas de soldadura en paquetes IC avanzados y nuevos diseños de trazado

- Tarjetas de sonda de oblea - Componentes ópticos precisos (micro lentes, lentes de

contacto) - Marcado láser en obleas semiconductoras - Sistemas micro-electro-mecánicos (MEMS) - Comprobación de la integridad y la posición de la

unión de cables

Las imágenes confocales capturadas por el escaneo Z se reconstruyen en tiempo real en mapas de contorno 3D e imágenes EDF (profundidad de enfoque extendida).

Imágenes reconstruidas

Instrumentos de medición Microscopios de medición Serie MM-800/400/200

Integración de imágenes digitales con metrología industrial

Los microscopios de medición de Nikon ofrecen rendimiento, conveniencia y un grado de flexibilidad sin precedentes para su actualización y expansión en el futuro.

La serie MM400/800 ofrece un control de sistema digital completo para una máxima precisión de medición en entornos industriales exigentes. Los microscopios de medición son excelentes para inspeccionar, medir y verificar características 2D y 3D en piezas pequeñas o medianas.

El MM-200 es un sistema de microscopio de medición compacto y liviano con un precio razonable para aplicaciones que requieren alta precisión y bastante exactitud para medir una variedad de piezas metálicas, plásticas y electrónicas en todas las industrias; especialmente adecuado para componentes automotrices y electrónicos.

Lámpara MM800LMU + LED EPI

PGA - Pin de inserción Imagen de campo brillante

CCD Dientes de engranaje de plástico

MM-200 MM-400

21

SERI

E M

M-8

00/4

00/2

00

CARACTERÍSTICAS

- Perfecta integración con las cámaras digitales de Nikon y el software de metrología E-Max

- Los iluminadores LED blancos de alta intensidad son estándar para el uso de imágenes con características de campo brillante

- La interfaz electrónica de mochila facilita el control de la iluminación automatizada, la etapa XY y el control de datos del eje Z a través de una computadora externa que ejecuta el software E-Max de Nikon

- Para medir piezas de trabajo más grandes, está disponible una plataforma de hasta 12x8 pulgadas

BENEFICIOS

- Excelente captura de datos geométricos, procesamiento y almacenamiento - Facilidad de operación muy mejorada, gracias a los diversos controles

motorizados automatizados y a un diseño ergonómico - Con una mayor fuerza en el cuerpo, permite utilizar plataformas más grandes sin

distorsión del sistema - Rango de observación extendido al ofrecer muchas opciones en

configuraciones ópticas de iluminadores y fuentes de luz de iluminación - También está disponible un modelo de microscopía compuesta de gran

aumento totalmente motorizado, para una capacidad de imagen digital extremadamente fina

APLICACIONES

- Tecnologías 'Lab-on-a-chip' de dispositivos médicos - Sistemas micro-electro-mecánicos (MEMS) - Fabricación de componentes plásticos (por ejemplo, piezas moldeadas por

inyección) - Dispositivos médicos para la actividad intravascular y general del cuerpo,

ej. articulaciones de reemplazo de cadera y rodilla - Microelectrónica y optoelectrónica - Dispositivos de micro herramientas - Análisis de superficies por rugosidad o para investigar análisis de fallas - Estudios de análisis de fallas graves de grietas en materiales

SOLUCIONES RELACIONADAS

- Sistemas de medición por video NEXIV e iNEXIV - Microscopios industriales

Instrumentos de medición Proyectores de perfiles, Medidores de altura digitales, Autocolimadores

Precisión inigualable, desempeño incomparable

Proyectores de perfiles Los proyectores de perfiles de Nikon aplican los principios de la óptica a la inspección de piezas manufacturadas, proyectando la silueta ampliada de una pieza en una pantalla. Para adaptarse a su aplicación específica, cada proyector de perfil viene con varios lentes de proyección, cada uno con aumento, distancia de trabajo y tamaño de campo de visión diferentes.

El V-20B tiene un diámetro de pantalla efectivo grande de 500mm. Su precisión de ampliación superior es ideal para medir e inspeccionar perfiles, condiciones de la superficie y otros aspectos de piezas grandes de trabajo. La línea Horizon de comparadores para mesa horizontales proporciona una iluminación potente y confiable para la inspección y medición de superficies y perfiles.

V-20B V-12B

MF-1001/MF-501 Digimicro Las series Digimicro MF-1001 y MF-501 ofrecen mediciones de contacto impecables de dimensiones, espesor y profundidad. Tienen una longitud de medición igual a 100mm y 50mm respectivamente y una precisión de 1µm a 20° C. Los soportes están disponibles en cerámica, acero o granito para mayor estabilidad y hay una amplia variedad de puntas de sonda disponibles para adaptarse a la mayoría de las aplicaciones.

MF-1001 medidor digital de altura

MF-501 Medidor digital de altura

Autocolimadores 6B/6D-LED Los autocolimadores de Nikon Metrology verifican la alineación y miden desviaciones angulares muy pequeñas para medir la planitud o la altura mediante geometría simple. El autocolimador modelo Darkfield es perfecto para medir espejos pequeños y planos. El autocolimador modelo de campo brillante utiliza la óptica Nikon característica para iluminar los detalles de la superficie.

Las aplicaciones incluyen inspección de planitud de superficies, alineación de componentes con superficies reflectantes (ej. lente de lectura del reproductor de CD), así como mediciones relacionadas con las herramientas de la máquina (ej. rectitud en el movimiento de las etapas, ángulos de los indexadores).

22

PRO

YEC

TORE

S D

E PE

RFIL

, M

EDID

ORE

S D

IGIT

ALE

S D

E A

LTU

RA,

AU

TOC

OLI

MA

DO

RES

SOLUCIONES RELACIONADAS

Hay disponibles diferentes tipos de proyectores de perfil: - V-20B (Diámetro de la pantalla 500mm) - V-12B (Diámetro de la pantalla 300mm) - Horizon 16E (diámetro de la pantalla

400mm, solo para los Estados Unidos)

APLICACIONES

- Perfiles (fabricación de metal y plástico)

- Condiciones de la superficie - Otros aspectos de la pieza - Análisis de grietas y fallas

Materiales y soluciones de microscopía industrial MICROSCOPIOS ESTEREOSCÓPICOS

MICROSCOPIOS PARA MATERIALES Y COMPUESTOS INDUSTRIALES

MICROSCOPIOS ELECTRÓNICOS DE ESCANEO

PAQUETE DE SOFTWARE

Como líder mundial en tecnología de imágenes, Nikon fabrica sistemas completos de microscopios ópticos y digitales con una versatilidad, rendimiento y productividad excepcionales para cualquier aplicación.

23

Microscopios industriales Gama completa de microscopios estereoscópicos Un gran paso adelante

para la microscopía estéreo Los modelos SMZ25 y SMZ18 están revolucionando la microscopía estereoscópica batiendo su propio récord mundial de 25:1 y una relación de zoom de 18:1. La relación de zoom de 25:1 representa alrededor de un 25% más de rango de zoom que el microscopio estéreo de gran zoom, el cual es la opción más cercana. Usted puede esperar una excelente modularidad de los accesorios, comodidad del usuario y una gama de ópticas de ultra alto rendimiento.

Estos nuevos modelos SMZ de gama alta cubren una amplia gama de funciones, desde desafiantes aplicaciones estereoscópicas para proporcionar imágenes de una calidad incomparable hasta el más fino detalle solucionable.

Aguja de inyección Placa de circuito impreso (campo brillante)

Placa de circuito impreso (fluorescencia)

Reloj El SMZ1270/SMZ1270i es una gama de modelos de microscopios estereoscópicos con la mayor relación de zoom en su clase. El SMZ800N se destaca por presentar ópticas mejoradas y operabilidad para aplicaciones de rutina, al tiempo que conserva excelentes capacidades de imagen.

Estos microscopios estereoscópicos permiten a los investigadores llevar a cabo estudios estereoscópicos complejos de gran aumento y gran relación de zoom junto con la captura y cuantificación de imágenes de alta definición con facilidad. La claridad de las imágenes y el diseño mejorado y facilidad de uso, benefician a los investigadores en una variedad de campos industriales y de la ciencia de materiales.

SMZ1270i SMZ800N

La línea completa de microscopios estereoscópicos Nikon, cubre toda la gama de funcionalidades que esperan los usuarios de microscopios, desde la observación sofisticada hasta los modelos más asequibles y todos con las características ergonómicas que se requieren hoy en día en el lugar de trabajo.

- - - - -

SMZ 25/18 SMZ 1270i/1270/800N SMZ 745/745T SMZ 445/460 SMZ745T

24

MIC

ROSC

OPI

OS

ESTE

REO

SCÓ

PIC

OS

CARACTERÍSTICAS

- El rango de zoom más grande del mundo de 25:1 para el SMZ25 y la resolución más alta en toda la serie Nikon SMZ

- Funcionamiento motorizado de enfoque y zoom (SMZ25) - Imágenes estereoscópicas y capturadas digitalmente con gran nitidez - Bases delgadas de fácil manejo LED DIA con iluminación OCC (método de

iluminación oblicua desarrollado por Nikon) para materiales transparentes

Microscopios industriales Microscopios industriales Serie Eclipse

A la vanguardia de la innovación óptica Nikon Metrology ofrece una completa gama de microscopios industriales compuestos para una amplia variedad de aplicaciones, desde modelos básicos hasta sistemas sofisticados para la inspección de muestras o componentes de alto nivel. La gama Eclipse de Nikon con sistemas de microscopios ópticos y digitales, ofrece versatilidad, rendimiento y productividad excepcionales, necesarios para abordar prácticamente cualquier aplicación con facilidad.

Eclipse LV100ND Eclipse LV150N

LA SERIE ECLIPSE LV100N DE TAMAÑO REDUCIDO OFRECE UNA CALIDAD DE IMAGEN ÓPTICA EXCELENTE CON CARACTERÍSTICAS ERGONÓMICAS

Los microscopios Eclipse de Nikon son famosos por su capacidad para ofrecer al usuario imágenes más claras con un mayor contraste. El LV100N ofrece estas imágenes más brillantes, con un menor consumo de energía y menos generación de calor de la fuente de luz, lo que reduce la posibilidad de desviación del enfoque inducido por el calor.

resolución excepcionalmente alta e imágenes de alto contraste.

Eclipse L200N Eclipse L300N MICROSCOPIO METALÚRGICO INVERTIDO ECLIPSE MA200/MA100N

El MA200 es un microscopio metalúrgico invertido optimizado para imágenes digitales y eficiencia ergonómica. Su exclusivo diseño de caja cúbica permite un fácil acceso y una línea de visión a la muestra en el escenario y al revólver, con una superficie de escritorio, en un tercio del área de un modelo convencional. El Eclipse MA100N es una unidad de microscopio invertido de tamaño compacto desarrollada para observación de campo brillante de alta calidad y contraste de polarización simple. El MA100N utiliza la misma gama óptica Nikon que usan los soportes más grandes para mantener una excelente calidad de imagen.

MA100N

LV150N PARA INSPECCIÓN INDUSTRIAL

Los microscopios de la serie Eclipse LV150N brindan un rendimiento excelente al inspeccionar semiconductores, pantallas planas, paquetes electrónicos, sustratos electrónicos, materiales montados en resina, seccionados y pulidos, dispositivos médicos y una gran variedad de otras muestras.

Eclipse MA200 EL CARGADOR DE OBLEA NWL200 PARA MICROSCOPIOS DE INSPECCIÓN ECLIPSE IC DE NIKON

El NWL200 es capaz de cargar obleas finas de hasta 200 micras. El nuevo sistema de carga logra cargar de manera altamente confiable y adecuada, para la inspección de semiconductores de última generación.

L200N PARA INSPECCIÓN DE OBLEAS Y MÁSCARAS DE 200MM

Combinado con el excelente concepto de diseño del sistema óptico CFI60-2 de Nikon y un extraordinario nuevo sistema de iluminación, este microscopio proporciona imágenes más brillantes con mayor contraste sobre muestras de gran diámetro. La serie L200N está diseñada para ser la opción idónea para la inspección de obleas, fotomáscaras y otros sustratos.

Sistema de carga de obleas NWL200

L300N PARA UNA INSPECCIÓN IMPECABLE DE GRAN TAMAÑO DE LCDS Y OBLEAS Configurada para la inspección de mascarillas y obleas de 300mm, la serie Eclipse L300N también satisface la necesidad de inspección de materiales electrónicos de back-end de pantalla plana. La serie L300N utiliza el sistema óptico CFI60-2 patentado por Nikon, que ofrece una

Cámaras de microscopio

25

SERI

E EC

LIPS

E

SOLUCIONES RELACIONADAS

- El concepto de diseño de microscopía modular proporciona una gran variedad de accesorios (por ejemplo, iluminadores, lentes de objetivo, plataformas, cargadores de obleas) para ayudar a cumplir con los requisitos de inspección que se ven en la actualidad

- Disponibilidad de variantes de microscopios en cada serie para fines de inspección específicos (por ejemplo, capacidad de polarización, uso metalúrgico de alta gama)

- Disponibilidad de portaobjetivos motorizados y cámaras para imágenes digitales

Microscopios industriales Serie BW-S: sistemas de microscopio interferométrico de luz blanca

Resolución vertical ultra alta de 1 Picómetro La serie BW-S mide perfiles de superficie desde rangos de altura sub-nano hasta milímetros con rapidez y precisión.

- Alta precisión y repetibilidad – calibrada por una muestra con la norma VLSI de altura en pasos de 8nm u 8µm, con certificación NISTImagen de alta precisión/alta velocidad - adquisición a través de un lente de objetivo de interferencia de doble haz Resolución de altura de 1pm alcanzada con aumentos de 2.5x a 100x Amplio análisis de configuración de la región con costura Seis modelos disponibles para adaptarse a la aplicación y al costo

Estándar de altura de paso VLSI: 8nm

- - -

Microscopios industriales Microscopio electrónico de escaneo para mesa (SEM) NeoScope

El microscopio electrónico de escaneo para mesa de última generación

El Neoscope JCM-7000 tiene funciones de optimización automática de imágenes altamente avanzadas, automatización de la etapa de muestra y un entorno de software dedicado para permitir una captura de imágenes de muestra fácil y un análisis elemental químico de área completa opcional en tiempo real para usuarios de todos los niveles de experiencia. Equipado con una cámara de vacío de muestra grande, los modos de operación de vacío alto, bajo y sin carga se proporcionan como estándar.

Tanto el detector de electrones secundarios (SED) de diseño Everhart Thornley como un detector de electrones de retrodispersión de múltiples segmentos (BSED) de estado sólido, se proporcionan como equipo estándar. El BSED también proporciona una capacidad de generación de imágenes de perfiles 3D en tiempo real.

Los SEM para mesa se pueden utilizar en una amplia gama de sectores, incluyendo como ejemplos: inspección de componentes eléctricos, pureza de la materia prima mediante estudios químicos en industrias farmacéuticas. Materiales vegetales junto con textiles, papel, estudios de pigmentos, estudios forenses y de conservación. Además, las aplicaciones de SEM se están expandiendo no solo para cubrir la investigación y el desarrollo, sino también para abordar el control de calidad y la inspección de productos cerca de la línea de producción para investigaciones de análisis de fallas. Con estas aplicaciones, las demandas de mayor eficiencia en el trabajo, operación más sencilla y mayor grado de capacidades analíticas y de medición están aumentando, y el equipo JCM-7000 las maneja adecuadamente.

Además de la captura de imágenes, se proporciona un conjunto de herramientas de medición fáciles de usar como estándar. Para el detector de análisis elemental químico EDS opcional, un sistema de control de mayor capacidad y completamente integrado, proporciona una solución de vanguardia en el equipo de escritorio, comparable a los sistemas en equipos SEM de columna grande.

26

NEO

SCO

PE

SERI

E BW

-S

La oblea SiC planarizada

-

Microscopios industriales Información general de la solución de software

Información general de la solución de software

Paquete de software Nikon NIS Elements HERRAMIENTAS DE CONTROL INTEGRAL DE DISPOSITIVOS Y ANÁLISIS DE IMAGEN, VISUALIZACIÓN Y ALMACENAMIENTO PARA MICROSCOPíA

La aplicación NIS-Elements revoluciona las actividades de software de imágenes para el mercado de la microscopía al combinar funciones de inteligencia automatizadas para microscopios, cámaras, componentes y periféricos con potentes herramientas de análisis, visualización y almacenamiento. Su interfaz intuitiva simplifica el flujo de trabajo y acelera los tiempos de adquisición de imágenes al tiempo que proporciona una gama completa y versátil de funciones, como unión de imágenes, recuento de objetos, vistas de secciones de área y volumen y su cuantificación.

Auto Measure para NEXIV SOFTWARE FÁCIL DE USAR QUE HACE SIMPLE LA MEDICIÓN Y AUTOMATIZACIÓN DE METROLOGÍA POR VIDEO

Auto Measure integra un menú de asistente intuitivo, GUI personalizable y modo de ingeniero/operador dentro de un entorno de varios idiomas para proporcionar una solución completamente funcional para los requisitos industriales actuales. El software Auto Measure es compatible con los sistemas de medición por video iNEXIV VMA y el NEXIV VMZ-R.

AUTOMEASURE EYES (iNEXIV)

El paquete Auto Measure Eyes presenta una operación fácil para el usuario, con programas de medición que se pueden crear y almacenar con solo unos pocos clics del mouse. También cuenta con funciones de informes integrales, para obtener y registrar datos completamente capturados para interpretar y presentar una visión completa de la calidad del producto.

Software de procesamiento de datos serie E-Max (Instrumentos de medición) MEDICIÓN DEL CAMPO DE VISIÓN (FOV) CON TECNOLOGÍA AVANZADA DE PROCESAMIENTO DE IMÁGENES DIGITALES

El software de la Serie E-MAX ofrece un procesamiento de imágenes de última generación que admite mediciones de uso general, para una amplia gama de instrumentos de medición manual, incluidos los microscopios de medición y los proyectores de perfiles de Nikon.

CMM-Manager para NEXIV AMPLIAR LAS CAPACIDADES DE LA MEDICIÓN MULTISENSOR Aumente las capacidades de medición táctil y de video en 3D de su Nexiv con CMM-Manager, ahora disponible en los instrumentos de medición compatibles con la sonda táctil iNEXIV de Nikon. CMM-Manager está orientado a tareas, es muy intuitivo y ofrece potentes capacidades de medición y generación de informes. Las principales características del producto incluyen definición de la ruta basada en CAD libre de colisiones, simulación de ruta virtual y medición precisa de características para sondas vision y táctiles.

27

INST

RUM

ENTO

S D

E SO

FTW

ARE

Metrología multisensor ESCANEO LÁSER CMM

ESCANEO LÁSER PORTÁTIL

SOFTWARE DE METROLOGÍA

L100 LC15Dx XC65Dx-LS ModelMaker H120 MCAx

28

Metrología multisensor Escáneres láser CMM

El escaneo láser aumenta el rendimiento de la inspección

L100 - El mejor escáner láser CMM que combina productividad y precisión

El escáner láser L100 CMM ofrece la mejor combinación posible de velocidad, precisión y facilidad de uso. Adecuado para la medición de superficies y características, el L100 entrega rápidamente datos precisos e informes de comparación de piezas-a-CAD, incluso en superficies brillantes o de múltiples materiales.

El L100 es ideal para inspeccionar componentes más grandes donde la productividad es clave, pero sin tener que comprometer la precisión. Equipado con un lente Nikon de vidrio de alta calidad y una cámara de alta definición, el L100 presenta una resolución puntual de 42µm y una precisión de datos excepcional, lo que permite la entrega de mallas suaves y altos niveles de detalle.

LC60Dx – Escáner CMM de uso múltiple para todos los presupuestos El LC60Dx es un escáner de uso múltiple diseñado para escanear sin esfuerzo materiales de superficie variables o difíciles de escanear. Como todos los demás escáneres láser de Nikon, el LC60Dx está equipado con la capacidad única de rendimiento de sensor mejorado, que proporciona un ajuste de la intensidad del láser punto por punto en tiempo real, que se adapta constantemente a la superficie del material.

El LC60Dx de uso múltiple es el escáner láser de nivel básico de Nikon Metrology y es ideal para presupuestos limitados.

29

ESC

ÁN

ERES

LÁ

SER

CM

M

Beneficios del escaneo láser basado en una CMM MEJOR ENTENDIMIENTO DE LAS DESVIACIONES - Conduce a una rápida toma de decisiones y acciones correctivas - Reduce el número de iteraciones de diseño y acelera el tiempo de comercialización - Disminuye el tiempo inactivo de la producción mediante una solución de problemas más rápida

MEJORE LA CAPACIDAD DE SU CMM ACTUAL - Actualización a una CMM multisensor versátil que ofrece inspección con sonda táctil y sin contacto - Adapte el hardware y el software del controlador de las CMMs existentes. - Los kits de actualización están disponibles para la mayoría de las principales marcas de controladores CMM

AUMENTAR LA PRODUCTIVIDAD DE LA INSPECCIÓN - Los escáneres láser recopilan más información en menos tiempo - Medición de características más rápida debido a menos movimientos de la CMM - Programación fácil fuera de línea basada en CAD ahorra en la preparación y modificación de programas de medición

MEDICIÓN DE CUALQUIER MATERIAL - Mida materiales blandos o delicados con tecnología sin contacto para evitar la deformación de piezas delicadas - El ajuste automático del láser significa que piezas y materiales oscuros o brillantes pueden medirse sin tratamiento especial

Metrología multisensor Escáneres láser CMM

Captura completa en 3D de características y superficies complejas

LC15Dx - Cerrando la brecha con precisión táctil El escáner LC15Dx trae la digitalización 3D dentro del rango de precisión de la medición táctil, al tiempo que ofrece la ventaja de capturar miles de puntos en lugar de unos pocos puntos discretos con sonda táctil. En pruebas comparables a ISO 10360, el LC15Dx logró la precisión esperada al usar una CMM con una sonda táctil.

Con su lente Nikon hecha a la medida y una resolución de punto de solo 22µm, se adapta perfectamente a la digitalización de objetos pequeños o detallados. La densidad de puntos muy alta y la capacidad de satisfacer tolerancias estrictas la convierten en la herramienta ideal para inspeccionar piezas como hojas pequeñas, engranajes e implantes médicos.

XC65Dx(-LS) Escáner cruzado - Inspección productiva de características Al incorporar un diseño patentado con 3 láseres en un patrón cruzado, el XC65Dx captura detalles en 3D completos de características, bordes, cavidades, costillas y superficies de forma libre en un solo escaneo. Como tal, establece nuevos estándares de productividad al adquirir datos a un ritmo más rápido mientras impulsa la extracción precisa de posiciones y dimensiones.

El XC65Dx-LS tiene una separación más larga para una captura óptima de bolsillos y ranuras profundos, y para acceder a otras ubicaciones difíciles de alcanzar. El Escáner cruzado es adecuado para la inspección de piezas de carrocería de vehículos de hoja metálica con características 2D o 3D, piezas de motor fundidas y piezas moldeadas de plástico complejas, etc.

30

ESC

ÁN

ERES

LÁ

SER

CM

M

ESPECIFICACIONES

60x60mm 65x65mm (3x) 65x65mm (3x)

Error de forma 7 µm 20 µm 25 µm 35 µm

200,000 70,000 77,000 3 x 25,000 3 x 25,000Adquisición de datos

Resolución 42 µm 22 µm 60 µm 93 µm 93 µm

L100 LC15Dx LC60Dx XC65Dx XC65Dx-LS

(aprox. pts/seg)

de palpado ISO

18x15mm

15 µm

Aprox. 110x60mm Campo de visión

Metrología multisensor Escaneo portátil

Escaneo 3D ultra rápido de alta definición El escáner láser premium ModelMaker H120 de Nikon Metrology y el brazo CMM portátil articulado de 7 ejes MCAx S forman una solución de medición 3D de vanguardia, lo que permite a los usuarios acelerar su tiempo de comercialización y agilizar sus procesos de fabricación.

La gama de brazos MCAx S comprende tres niveles de rendimiento en seis tamaños diferentes y es compatible con trípodes y bases magnéticas para su uso en el laboratorio de metrología, en el área de producción o en el campo. El alcance sin restricciones dentro y alrededor de las piezas con extrema precisión mientras ofrece un escaneo inalámbrico de alta velocidad proporciona versatilidad, operación simple y eficiencia en cualquier entorno.

Las innovaciones del ModelMaker H120, como la óptica Nikon a la medida, la calibración avanzada y la optimización automática patentada de los ajustes para cada punto medido sin reducir la velocidad; garantizan una alta productividad y una medición superior sin contacto de superficies geométricas y de forma libre sin comprometer los pequeños detalles, sin importar el tamaño o el material.

Experiencia mejorada de escaneo con ModelMaker H120

31

ESC

AN

EO P

ORT

ÁTI

L

CARACTERÍSTICAS

MODELMAKER H120

- Tecnología láser azul - Lente Nikon ultra nítido - Ancho de franja hasta 120 mm - Velocidad de fotograma extremadamente rápida de más de 450 Hz - Precisión del escáner de hasta 7 µm (1σ) - Precisión combinada del sistema ISO 10360-8 Anexo D con

los brazos MCAx S de 41μm - El rendimiento del sensor mejorado (ESP4) permite medir

materiales difíciles como fibra de carbono, negro brillante, reflectantes o piezas de muchos colores

BRAZO ARTICULADO MCAx S

- Articulación de 7 ejes con rotación infinita y opciones de palpado flexibles

- Disponible en longitudes entre 2.0 y 4.5m y tres niveles de precisión (S, S+ y S++)

- Construcción avanzada: brazos de fibra de carbono de grado aeroespacial - fuerte pero ligero con garantía de por vida

- Certificado ISO 10360-12 - Conectividad inalámbrica opcional y alimentación por

batería para brazo y escáner

APLICACIONES

- Inspección completa de la pieza-a-CAD - Inspección de características geométricas. - Inspección de enrase y separación- Ingeniería inversa - Solución de problemas in situ - Entrada para la creación rápida de prototipos

Metrología multisensor Software de metrología

Escaneo 3D Software de metrología

El software de metrología avanzado impulsa el proceso de inspección digital

Nikon Metrology Focus para escaneo e inspección

Un conjunto completo de inspección 3D es el núcleo de este proceso que proporciona rápidamente comparaciones fáciles de interpretar de la pieza-a-CAD e inspección avanzada de elementos.

La interacción perfecta entre los sensores de Nikon Metrology y el potente software de metrología ofrece resultados de alta productividad de los escáneres láser CMM o brazos articulados. Esto incluye la capacidad de múltiples sensores para utilizar tecnología táctil u otra tecnología de sondeo en una sola interfaz, incluida la preparación fuera de línea para automatizar las tareas de escaneo CMM o predefinir rutinas de medición.

InnovMetric Polyworks

Nikon Metrology proporciona integraciones con varios paquetes de software de metrología importantes. Esto permite a los usuarios operar CMMs o brazos articulados con el software de su elección. El nivel de integración depende del paquete de software y abarca la programación en línea/fuera de línea, la adquisición original con todas las funciones, la inspección basada en CAD/no-CAD, el sondeo táctil y el escaneo láser.

El uso del software con el que ya está familiarizado o que se adapte mejor a su aplicación, simplifica las necesidades de capacitación al tiempo que maximiza la productividad y el retorno de la inversión.

Metrologic Metrolog X4

3D Systems Geomagic

LK Metrology CAMIO

32

SOFT

WA

RE

BENEFICIOS DEL SOFTWARE

- Todos los paquetes tienen capacidad multisensor, combinando mediciones táctiles con mediciones de escaneo láser para aprovechar mejor las fortalezas de cada tecnología de sensor.

- Realice una inspección manual directamente desde su software de inspección. El software guía al operador y proporciona retroalimentación directa.

- Escaneo láser CMM o adquisición de datos táctiles con la posibilidadde preparar programas de las piezas fuera de línea desde CAD

- La metrología dimensional con mediciones de características e inspección de la pieza-a-CAD, identifica fácilmente problemas de calidad.

- Conjuntos de herramientas integrales para una amplia gama de necesidades de evaluación de calidad, como GD&T, inspección seccional 2D, verificación de enrase y separación, alineaciones complejas, ensamblaje virtual, análisis de bordes, control estadístico de procesos...

- Capacidades de ingeniería inversa para capturar y refinar digitalmente la intención de diseño y estilizado.

Atención al cliente

Atención al cliente Nikon Metrology proporciona soluciones de metrología acreditadas por ISO9001/2000 y UKAS a una amplia gama de industrias y clientes bluechip en un mercado global, utilizando una red mundial de expertos en metrología altamente capacitados. La gama completa de servicios que incluyen soporte técnico, capacitación, programas de mantenimiento, capacidades de adaptación y trabajo por contrato, permite a nuestros clientes obtener el máximo valor de sus soluciones Nikon Metrology o resolver sus problemas de inspección en el menor tiempo posible.

SOPORTE TÉCNICO

Ayuda inmediata: las habilidades y el conocimiento técnico para resolver los problemas de su aplicación/software por parte de ingenieros de soporte técnico dedicados.

ACTUALIZACIONES Y ADAPTACIONES

Las CMMs existentes se pueden actualizar con un innovador escáner de metrología y software de aplicación de Nikon. Esto mejora considerablemente la productividad de la inspección y amplía el alcance de la aplicación. Se encuentra disponible una gama completa de escáneres y software de aplicación para satisfacer todas sus necesidades actuales y futuras.

CAPACITACIÓN/SEMINARIOS DE METROLOGÍA

Base del conocimiento: capacitación y seminarios de software y hardware básicos, intermedios y avanzados, in situ o externos, impartidos por personal dedicado con experiencia práctica.

CONSULTA DE PROGRAMACIÓN

Asistencia operativa - ingenieros altamente capacitados proporcionan programas de las piezas o consulta de programación, experiencia que puede reducir los costos de inspección de sus productos.

MANTENIMIENTO Y CALIBRACION

Servicio técnico: mano de obra, tecnología de punta y logística para maximizar la confiabilidad, el tiempo de actividad y el rendimiento del equipo.

SUBCONTRATO DE INSPECCIÓN

Nikon Metrology ofrece una amplia gama de trabajos de inspección subcontratados. La amplia cartera de productos incluye la herramienta adecuada para cada desafío de inspección del cliente. Además de las instalaciones de servicio de inspección propias de Nikon Metrology, también cuenta con una amplia red mundial de centros de servicio acreditados por Nikon Metrology para realizar trabajos de inspección por contrato.

- Trabajo de escaneo láser para inspección de la pieza-a-CAD o ingeniería inversa

- Trabajos de Inspección de rayos X y TC para aplicaciones industriales y electrónicas

33

34

35

NIKON METROLOGY NV Geldenaaksebaan 329 B-3001 Leuven, Belgium Tel: +32 16 74 01 00 Fax: +32 16 74 01 03 Sales.NM@nikon.com

NIKON CORPORATION Shinagawa Intercity Tower C, 2-15-3, Konan, Minato-ku, Tokyo 108-6290 Japan Tel: +81 3 6433 3701 Fax: +81-3-6433-3784 www.nikon.com/products/industrial-metrology/

NIKON METROLOGY EUROPE NV Tel: +32 16 74 01 01 Sales.Europe.NM@nikon.com

NIKON METROLOGY GMBH Tel: +49 6023 91733-0 Sales.Germany.NM@nikon.com

NIKON METROLOGY SARL Tel: +33 1 60 86 09 76 Sales.France.NM@nikon.com

NIKON METROLOGY, INC. Tel: +1 810 2204360 Sales.NM-US@nikon.com

NIKON METROLOGY UK LTD. Tel: +44 1332 811349 Sales.UK.NM@nikon.com

NIKON MÉXICO - SALA DE EXPOSICIÓN DE METROLOGÍA Tel: +52 (442) 688 5067 Sales.NM-MX@nikon.com

NIKON INSTRUMENTS (SHANGHAI) CO. LTD. Tel: +86 21 6841 2050 (sucursal Shanghai) Tel: +86 10 5831 2028 (sucursal Beijing) Tel: +86 20 3882 0551 (sucursal Guangzhou) NIKON SINGAPORE PTE. LTD. Tel: +65 6559 3651 NIKON MALAYSIA SDN. BHD. Tel: +60 3 7809 3688 NIKON INSTRUMENTS KOREA CO. LTD. Tel: +82 2 2186 8400 NIKON SALES (THAILAND) CO., LTD. Tel: +66-2633-5100 NIKON INDIA PRIVATE LIMITED Tel: +91-124-4688500 Más oficinas y revendedores en www.nikonmetrology.com

Nik

on_M

etro

logy

_Sol

utio

ns_E

N_0

820

– C

opyr

ight

Nik

on M

etro

logy

NV

202

0. T

odos

los

dere

chos

res

erva

dos.

Los

mat

eria

les

pres

enta

dos

aquí

son

de

natu

rale

za r

esum

ida,

est

án s

ujet

os a

cam

bios

y e

stán

de

stin

ados

úni

cam

ente

a in

form

ació

n ge

nera

l.

Certificado ISO 9001 para NIKON CORPORATION Unidad de Negocio de Metrología Industrial

Certificado ISO 14001 para NIKON CORPORATION

mailto:Sales.NM@nikon.comhttp://www.nikon.com/products/industrial-metrology/mailto:Sales.Europe.NM@nikon.commailto:ope.NM@nikon.commailto:Sales.Germany.NM@nikon.commailto:.NM@nikon.commailto:Sales.France.NM@nikon.commailto:Sales.NM-US@nikon.commailto:Sales.UK.NM@nikon.commailto:Sales.NM-MX@nikon.comhttp://www.nikonmetrology.com/